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X熒光硫含量測(cè)定儀采用紫外熒光法測(cè)定總硫含量

更新時(shí)間:2021-06-08      點(diǎn)擊次數(shù):586
  X熒光硫含量測(cè)定儀采用“紫外熒光法”測(cè)定原理。當(dāng)樣品被引入高溫裂解爐后,經(jīng)氧化裂解,其中的硫定量地轉(zhuǎn)化為二氧化硫,反應(yīng)氣經(jīng)干燥脫水后進(jìn)入熒光室。在熒光室中,部分二氧化硫受紫外光照后轉(zhuǎn)化為激發(fā)態(tài)的二氧化硫(SO2*),當(dāng)SO2*躍遷到基態(tài)時(shí)發(fā)射出光子,光電子信號(hào)由光電倍增管接收放大。再經(jīng)放大器放大,計(jì)算機(jī)數(shù)據(jù)處理,即可以轉(zhuǎn)換為光強(qiáng)度成正比的電信號(hào)。在一定條件下反應(yīng)中產(chǎn)生的熒光強(qiáng)度SO2*與二氧化硫的生成量成正比,二氧化硫的量又與樣品中的總硫含量成正比,故可以通過(guò)測(cè)定熒光強(qiáng)度來(lái)測(cè)定樣品中的總硫含量。分析樣品前,需要先用標(biāo)樣校正曲線,在相同條件下再分析樣品,程序自動(dòng)依據(jù)標(biāo)樣校正曲線計(jì)算出樣品的硫含量。
 
  熒光硫分析儀都有其特定的能級(jí)結(jié)構(gòu),其核外電子都以各自*的能量在各自的固定軌道上運(yùn)行,內(nèi)層電子在足夠能量的X射線照射下脫離原子的束縛,成為自由電子,我們說(shuō)原子被激發(fā)了,其他的外層電子便會(huì)填補(bǔ)這一空位,也就是所謂躍遷,同時(shí)以發(fā)出X射線的形式放出能量。由于每一種元素的原子能級(jí)結(jié)構(gòu)都是特定的,它被激發(fā)后躍遷時(shí)放出的X射線的能量也是特定的。熒光硫分析儀以微電流放大、計(jì)算機(jī)數(shù)據(jù)處理,即可轉(zhuǎn)換為與光強(qiáng)度成正比的電信號(hào)。此化學(xué)發(fā)光的強(qiáng)度與NO成正比,而NO的生成量又與樣品中的總氮含量成正比,故可以通過(guò)測(cè)定化學(xué)發(fā)光的強(qiáng)度來(lái)測(cè)定樣品中的的總含量。
 
  X熒光硫含量測(cè)定儀采用紫外熒光法測(cè)定總硫含量,提高了抗雜質(zhì)干擾的能力,避免了電量法對(duì)滴定池的繁鎖操作和因此帶來(lái)的不穩(wěn)定因素,使得儀器的靈敏度大為提高。系統(tǒng)關(guān)鍵部件采用器件,使得整機(jī)性能有了可靠的保證。
 
  X熒光硫含量測(cè)定儀廣泛應(yīng)用于檢測(cè)液體、固體或氣體樣品中的硫含量。與國(guó)內(nèi)外同類(lèi)儀器相比,具有性能穩(wěn)定可靠,分析精度高,重復(fù)性好等特點(diǎn)。高精度的數(shù)采卡和計(jì)算機(jī)技術(shù)的應(yīng)用為數(shù)據(jù)的采集、控制、處理提供了可靠的保證。
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